Сравнить цены на книгу: Основы математической метрологии; Политехника, 2005
от 327 р. до 538 р.
- Издатель: Политехника
- ISBN: 5-7325-0793-0
- Книги: Физика и математика
- ID:1732528
Где купить (2)
Цена от 327 р. до 538 р. в 2 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Магазин | Последняя известная цена | Обновлено |
---|---|---|
Буквоед | 679 р. | 01.07.2023 |
Описание
В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений.
Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Цветков Эрик Иванович |
Издатель | Политехника |
Год издания | 2005 |
Страниц | 510 |
Переплёт | твердый |
ISBN | 5-7325-0793-0 |
Размеры | 21,50 см × 14,50 см × 2,50 см |
Формат | 60х90/16 шитая |
Тематика | Математика |
Тираж | 1000 |
Обложка | твердый переплёт |
Язык издания | rus |
Кол-во страниц | 510 |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Похожие товары
Книги: Прикладная математика. Вычислительная математика
Категория 261 р. - 392 р.